晶体面角恒等定律如何定义显微镜检测晶粒（之三）
对于晶体的面角，必须要使用专业的工具来进行，
可以通过测角仪来进行角度的测定，
接触测角仪的最初，所使用的是有刻度的半圆规，
或者是能够进行旋转的，那种直臂形状的，
进行测量的时候，需要注意，将半圆规的底边，还
有其旋转的臂进行操作，将其和需要检测的二晶面进
行靠近，
这样就可以在半圆规上面进行数据的读取，即对二
晶夹角数据的读取，测角仪的操作比较简单，而且方便，
但是其缺点是精度不够，只能达到0.5度，那么这就
不适合使用在对细小晶体的测量。
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